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XRF (X-ray 형광) 검출기는 분석할 샘플 표면에 고 에너지 X- 레이를 조준하는 AES (Atomic Emission Spectroscopy)의 한 형태입니다. 이러한 X- 선과 물체의 상호 작용으로 인해 2 차 (형광) X- 선이 방출됩니다. 존재하는 각 요소는 서로 다른 에너지를 가진 X- 선을 생성하며, 이러한 요소는 에너지에 대한 강도의 스펙트럼으로 감지되어 표시 될 수 있습니다. Peak 위치는 어떤 요소가 존재하는지, 피크 높이는 각 조성이 얼마나 존재 하는지를 나타냅니다. 이 기술은 광업 및 광물 탐사, 시멘트, 세라믹 및 유리와 같은 산업에서 일반적으로 사용됩니다.
Experis®의 특수가스 및 혼합물에는 아르곤 검출기 혼합가스의 'P5', 'P10', 메탄, 초고순도 가스가 포함됩니다.